Platerowana złota sonda Pogo

1637734182(1)

Platerowana złota sonda Pogo

Biorąc pod uwagę różną fizyczną naturę struktury, zobaczysz różne tryby awarii. Ale ogólnie rzecz biorąc, test jest abstrahowany od poszczególnych tranzystorów, więc nie wiem, czy zobaczysz dużą różnicę. Za każdym razem, gdy branża przechodzi przez jedną z tych głównych zmian architektonicznych, zazwyczaj widzisz wzrost intensywności testów. Muszą dowiedzieć się, jakie są tryby awarii związane z tą nową strukturą tranzystora i ogólną architekturą fizyczną. Widzieliśmy niektóre z nich w pierwszych węzłach finFET, niezależnie od tego, czy było to 22 nm w przestrzeni mikroprocesora, czy 14/16 nm w przestrzeni odlewniczej.

Platerowana złota sonda Pogo

Dobrym tego przykładem są specyfikacje dostarczania mocy i / lub impedancji mocy na karcie sondy. Jeśli próbujesz dostarczyć całą tę moc do chipa z oprzyrządowania testowego, ścieżka, przez którą to robisz, staje się o wiele ważniejsza, a specyfikacje muszą być o wiele ciaśniejsze. Pięć lat temu wydajność dostarczania mocy karty sondy nie była tak wielka. Teraz jest to główny czynnik projektowy i jest to jeden z powodów, dla których tak blisko współpracujemy z klientami fabless. Rozumieją różne tolerancje i specyfikacje, które będzie miał każdy z tych zasilaczy. Niektóre są nieco luźniejsze, niektóre muszą być bardzo ciasne. Podczas projektowania karty sondy specyficznej dla każdego projektu staje się to jednym z głównych problemów związanych z wydajnością.

Platerowana złota sonda Pogo

Prawie wszystko, co robimy, to albo goła kostka, albo pełny wafel, więc opakowanie kończy się jako dalszy kawałek tego. Ale widzisz wiele takich samych implikacji związanych z dostarczaniem mocy, które kończą się ograniczeniami w projekcie pakietu. Historycznie rzecz biorąc, pakowane podłoża były dość prostymi strukturami - kilkoma warstwami metalu, a nie wieloma naprawdę rygorystycznymi wymaganiami projektowymi. To się zmieniło. Teraz widzimy znacznie bardziej skomplikowane podłoża opakowaniowe z większą liczbą warstw. Poprzez gęstości idą w górę. Musisz zarządzać i dostosowywać wydajność zasilacza. Staje się to wielką sprawą - nie tylko do testowania na poziomie płytki za pomocą karty sondy, ale także w ostatecznym pakiecie.

Platerowana złota sonda Pogo

Testujesz, aby upewnić się, że każdy z tych elementów matrycy jest funkcjonalnie dobry lub wystarczająco dobry, aby można go było naprawić w ostatecznym pakiecie. A ponieważ są one wytwarzane na dość zaawansowanych węzłach - co najmniej 1x lub 1y nanometrowych węzłach DRAM, wydajność nie jest duża. Jest to więc prosta charakterystyka funkcjonalna upewnienia się, że matryca, która trafia do stosu, jest tak bliska dobrej, jak to tylko możliwe. Niechętnie używam terminu "znana dobra matryca", ponieważ przekazuje on pojęcie doskonałej rzeczy, a nic w branży półprzewodników nie jest idealne. Istnieje równowaga między kosztami a ryzykiem, z którym ludzie ciągle się bawią, a w przypadku pamięci DRAM istnieje pewien poziom możliwości naprawy i redundancji. Widzicie więc, że wszystkie te różne pokrętła są ćwiczone. Ale HBM z pewnością wpłynęło nie tylko na wolumen naszej działalności w zakresie kart do sond DRAM, ale także na wymagania dotyczące specyfikacji, ponieważ nadal je zaostrzają.

Jeśli chodzi o aspekt niezawodności niektórych z tych nowszych urządzeń, ludzie wciąż się nad tym zastanawiają. Ale są rzeczy analogiczne do testów wypalania i przyspieszania, albo poprzez testy temperaturowe, albo wibracyjne. Wymyślają różne sposoby przyspieszenia najbardziej prawdopodobnych trybów awarii w terenie lub rzeczy, o które ludzie się martwią. Odbyłem rozmowy z kilkoma klientami, ale w tym momencie tworzenie kopii zapasowych pełnych testów funkcjonalnych dla tych urządzeń, zarówno elektrycznych, jak i optycznych, jest miejscem, w którym koncentrujemy się na tym punkcie.

1645501389(1)